歡迎使用TL-518在線(xiàn)測(cè)試儀，首先對(duì)追求PPM等級(jí)品質(zhì)的電子業(yè)及資訊業(yè)電路板製造各位先進(jìn)表示敬意，並恭喜您睿智選擇了TL-518這臺(tái)品質(zhì)穩(wěn)定且功能超強(qiáng)悍的『在線(xiàn)測(cè)試儀』。
電子電路板上的電子元件，動(dòng)輒數(shù)百至數(shù)千個(gè)，不管是手動(dòng)或自動(dòng)生產(chǎn)線(xiàn)，漏件、掉件、跳件、錯(cuò)件、冷焊、錯(cuò)位或零件不良，可以說(shuō)絕對(duì)難以避免。
上述不良狀態(tài)，若依賴(lài)人工目視檢查，既費(fèi)時(shí)且不可靠，若以『功能測(cè)試』 ( Functional Test )來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品品質(zhì)，仍有其測(cè)試技術(shù)的盲點(diǎn)，所以無(wú)法完全掌握品質(zhì)，也無(wú)法直接指示不良的零件個(gè)所，所以仍有賴(lài)訓(xùn)練有素的技術(shù)人員來(lái)檢修，所以技術(shù)依存度非常高且成本不劃算。
ICT的功能是針對(duì)電路板上每一個(gè)零件隔離並檢查其功能是否合乎規(guī)格以及開(kāi)短路，精確指示出不良的零件及不良原因。因此在電路板插件焊接完成時(shí)，先執(zhí)行ICT檢驗(yàn)，可以及時(shí)解決漏件、錯(cuò)件、冷焊、錯(cuò)位元件或零件故障等生產(chǎn)問(wèn)題，藉以提升電路板製造及品質(zhì)能力。
為擴(kuò)大對(duì)客戶(hù)的服務(wù)，本公司特推出一年免費(fèi)服務(wù)保證，預(yù)期將成為測(cè)試儀器設(shè)備業(yè)界服務(wù)的新標(biāo)準(zhǔn)。
本公司研發(fā)與市場(chǎng)行銷(xiāo)人員深切體認(rèn)電子業(yè)界的需求，精心推出品質(zhì)穩(wěn)定且功能先進(jìn)的『TL-518在線(xiàn)測(cè)試機(jī)』，期望能有效的解決電子業(yè)界有關(guān)電路板的測(cè)試問(wèn)題，其特性及功能說(shuō)明如下：
n 配備EC Jet技術(shù) | n 人性化Windows介面，操作簡(jiǎn)單、上手容易 |
n 配備TA Jet技術(shù)(TL-518配備) | n 強(qiáng)大的板示功能(Board View) |
n 新思維CMOS+RELAY開(kāi)關(guān)卡設(shè)計(jì) | n ATPD快速自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試程式 |
n 真正的寬頻測(cè)試技術(shù) | n 完善統(tǒng)計(jì)分析管理機(jī)能，有效監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì) |
n 五線(xiàn)式測(cè)試技術(shù)，最高可測(cè)四端元件 | n SFIS現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線(xiàn)資訊系統(tǒng) |
本操作手冊(cè)內(nèi)容將分為三大部分：
I. 系統(tǒng)安裝
II. 基本操作設(shè)定
III. 測(cè)試程式編輯
此手冊(cè)為TL-518系列(TL-518FA與TL-518FR TL-518FE)共用!
熟讀並妥善用運(yùn)本操作手冊(cè)，它將可以為您解決大部分使用及操作上的問(wèn)題，使您的工作能更能得心應(yīng)手。
目錄
1-1 測(cè)量板 ( Measurement Card )
1-2 壓床控制板 ( Fixture Control Card )
1-3 開(kāi)關(guān)板 ( Switch Card )
1-11 規(guī)格 ( Specifications )
五、 機(jī)器維護(hù)、注意事項(xiàng)與故障排除
5.3.6 測(cè)量卡找不到 ( Measurement card not found )
5.3.7 測(cè)量卡信號(hào)源不良 ( Src Fail )
2-3 系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定對(duì)話(huà)盒
2-4 待測(cè)板測(cè)試參數(shù)設(shè)定
4.2.1 測(cè)試針點(diǎn)資料畫(huà)面工具列說(shuō)明
4.2.2 測(cè)試針點(diǎn)資料畫(huà)面欄位說(shuō)明
5-1 元件自動(dòng)學(xué)習(xí)及自動(dòng)隔離對(duì)話(huà)盒
6-4 元件隔離點(diǎn)對(duì)話(huà)盒 [ Alt + G ]
6.4.1 元件隔離點(diǎn)畫(huà)面區(qū)域說(shuō)明
6.4.2 元件隔離點(diǎn)畫(huà)面工具列說(shuō)明
6-5 並聯(lián)元件對(duì)話(huà)盒 [ Alt + P ]
6.5.1 並聯(lián)元件對(duì)話(huà)盒畫(huà)面欄位說(shuō)明
6-6 測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)圖說(shuō)明
6.6.2 測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)圖欄位說(shuō)明
7-2 IC自動(dòng)學(xué)習(xí)對(duì)話(huà)盒
7.2.1 IC自動(dòng)學(xué)習(xí)對(duì)話(huà)盒工具列說(shuō)明
7.2.2 IC自動(dòng)學(xué)習(xí)對(duì)話(huà)盒欄位說(shuō)明
3-6 電晶體的測(cè)量原理 ( 三端點(diǎn) ) ( MODE TR )
3-7 光耦合晶體測(cè)試原理 ( MODE PHO )
3-8 短/斷路的測(cè)試原理 ( Open/Short Test )
3-9 跳線(xiàn)的測(cè)試原理 ( MODE JP )
3-10 並聯(lián)二極體測(cè)試技術(shù) ( MODE DR )
3-14 IC Clamping Diode的測(cè)試原理
6-2 DEBUG作業(yè)的內(nèi)容及項(xiàng)目